時序優(yōu)化是保證數(shù)字芯片設(shè)計功能正確、性能指標(biāo)滿足設(shè)計要求的關(guān)鍵流程。為保證數(shù)字芯片正常工作并達(dá)到預(yù)期頻率，需要對時鐘信號和數(shù)據(jù)信號到達(dá)寄存器的時間是否滿足建立時間和保持時間的約束要求進(jìn)行檢查，同時對不滿足約束要求的情況進(jìn)行修復(fù)優(yōu)化。時序優(yōu)化在芯片設(shè)計過程中占據(jù)重要地位，是數(shù)字芯片設(shè)計特別是先進(jìn)工藝數(shù)字設(shè)計的重要瓶頸。

先進(jìn)工藝大規(guī)模數(shù)字電路設(shè)計可能包含上億門級單元和數(shù)百個工藝角。時序優(yōu)化工具首先需要具備超大規(guī)模數(shù)據(jù)處理能力。同時，在優(yōu)化過程中，任何單元或走線的變化帶來的時序影響都需實時更新到整個芯片以及所有工藝角，以避免其他元件或工藝角出現(xiàn)新的時序違例。另外，還要考慮因為單元或走線的物理位置變化是否可能引起版圖設(shè)計規(guī)則的違反。上述優(yōu)化過程對時序優(yōu)化工具提出了嚴(yán)苛的性能、容量和物理規(guī)則檢查能力的要求。

ICExplorer-XTop?針對先進(jìn)工藝、大規(guī)模設(shè)計和多工作場景的時序收斂難題，提供了一站式時序功耗優(yōu)化解決方案，包括建立時間（Setup）、保持時間（Hold）、瞬變時間（Transition）和漏電功耗（Leakage power）優(yōu)化等。該工具通過創(chuàng)新的層次設(shè)計數(shù)據(jù)并行處理技術(shù)、動態(tài)時序建圖技術(shù)和增量布局技術(shù)等，顯著提高了時序和功耗優(yōu)化的效率和質(zhì)量。ICExplorer-XTop?還提供了Post-mask ECO、交互式ECO和Clock ECO等特色解決方案，幫助用戶完成關(guān)鍵時序路徑的修復(fù)，顯著提升了時序收斂的效率。

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