隨著工藝的發(fā)展及設(shè)計復(fù)雜度的增加，芯片集成度越來越高、規(guī)模也越來越大，有的大型芯片面積達到了400平方毫米以上，晶體管數(shù)目多達百億門，芯片的版圖數(shù)據(jù)也隨之劇增。版圖數(shù)據(jù)量的增加對版圖工具的讀取性能、版圖數(shù)據(jù)集成、查詢以及操作等都提出了更高的要求。在讀取和分析先進工藝超大規(guī)模版圖數(shù)據(jù)時，常規(guī)的版圖查看和編輯工具已很難支撐。如何更高效地完成超大規(guī)模版圖數(shù)據(jù)的讀入、導(dǎo)出、檢視、比較、分析和集成，是所有集成電路設(shè)計與制造廠商必須要面對的問題。

Empyrean Skipper?為用戶提供了高效的一站式版圖集成與分析解決方案，支持多種版圖數(shù)據(jù)格式如GDS，GDS.gz，OASIS，LEF/DEF, MEBES等。通過基于索引的版圖數(shù)據(jù)并行讀取、版圖數(shù)據(jù)內(nèi)存鏡像和圖形索引等技術(shù)，實現(xiàn)了超大規(guī)模版圖的快速處理。

Empyrean Skipper?針對海量版圖首次讀取、二次讀取和多人同時讀取的不同應(yīng)用場景，提供了不同的版圖數(shù)據(jù)讀取模式，顯著提升了版圖數(shù)據(jù)讀取的性能；版圖讀入后，用戶可在工具內(nèi)對版圖進行查看和信息查詢。Empyrean Skipper?還支持了快速版圖集成、批量版圖數(shù)據(jù)處理、并行線網(wǎng)追蹤、點到點電阻分析等功能，為高效的分析和處理超大規(guī)模版圖數(shù)據(jù)提供了有力支撐，獲得了用戶的廣泛認可。

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