Empyrean Liberal

　　標(biāo)準(zhǔn)單元庫是數(shù)字集成電路設(shè)計(jì)的重要基礎(chǔ)。它是集成電路設(shè)計(jì)過程中預(yù)先定義好的、特征化的標(biāo)準(zhǔn)模塊的集合。通過電路仿真的方式提取標(biāo)準(zhǔn)單元的時序、功耗等特征值，建立標(biāo)準(zhǔn)單元邏輯信息模型文件的過程稱之為標(biāo)準(zhǔn)單元庫的特征化提取。隨著工藝的發(fā)展和設(shè)計(jì)復(fù)雜度的增加，標(biāo)準(zhǔn)單元的類型、數(shù)目和工藝角急劇增加，標(biāo)準(zhǔn)單元的特征化模型描述也越來越復(fù)雜，使得生成一套標(biāo)準(zhǔn)單元庫的特征化模型時間越來越長，甚至多達(dá)數(shù)月。標(biāo)準(zhǔn)單元庫特征化提取的時間花費(fèi)已成為制約數(shù)字電路設(shè)計(jì)效率的重要瓶頸之一。

　　Empyrean Liberal?為用戶提供了一套快速而精確的標(biāo)準(zhǔn)單元庫時序和功耗特征化模型的解決方案。工具通過內(nèi)置的電路仿真工具Empyrean ALPS?對標(biāo)準(zhǔn)單元進(jìn)行仿真分析，精確地提取時序和功耗特征值，形成標(biāo)準(zhǔn)單元庫特征化模型。同時，通過高效的分布式并行調(diào)度技術(shù)，進(jìn)一步提升了單元庫特征化提取的性能，為用戶加速單元庫的設(shè)計(jì)和優(yōu)化提供了重要支撐。

　　Empyrean Liberal?還支持對單元庫進(jìn)行質(zhì)量驗(yàn)證。用戶可以利用Empyrean Liberal?比較兩個單元庫的數(shù)據(jù)、屬性和結(jié)構(gòu)，對比精度差異，仿真驗(yàn)證庫文件數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性等，從而保證單元庫文件的質(zhì)量。