Empyrean Patron
依據(jù)摩爾定律及后摩爾定律，工業(yè)界一直致力于在縮小芯片面積的同時(shí)增加內(nèi)部器件數(shù)量，器件本身尺寸及連接方式變得越來越受限。隨著FinFET和GAAFET結(jié)構(gòu)技術(shù)的開發(fā)和應(yīng)用，電遷移及電壓降效應(yīng)(EM/IR)對(duì)芯片設(shè)計(jì)帶來的挑戰(zhàn)變得無法忽視。
晶體管級(jí)EM/IR分析工具Empyrean Patron? 聚焦于模擬芯片的電源完整性檢查解決方案。集成電路設(shè)計(jì)用戶可以通過該工具快速且高效的得到完整、精準(zhǔn)、可靠的EM/IR分析數(shù)據(jù)及檢查報(bào)告。
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