標(biāo)準(zhǔn)單元庫和IP是數(shù)字電路設(shè)計(jì)的重要基礎(chǔ)。隨著數(shù)字電路的設(shè)計(jì)復(fù)雜度越來越高,需要使用到的標(biāo)準(zhǔn)單元和IP也越來越多,越來越復(fù)雜。單元庫和IP的質(zhì)量直接決定了芯片設(shè)計(jì)的質(zhì)量和性能。而隨著單元庫和IP的種類越來越繁多,單元庫和IP的質(zhì)量也越來越難以管理和驗(yàn)證。如何對(duì)單元庫和IP的質(zhì)量進(jìn)行檢查,在設(shè)計(jì)的初期預(yù)先發(fā)現(xiàn)質(zhì)量問題,規(guī)避設(shè)計(jì)錯(cuò)誤以及如何分析單元庫和IP的性能、功耗指標(biāo)以適配設(shè)計(jì)的需求,為設(shè)計(jì)提供更優(yōu)的單元庫和IP選擇從而提高芯片設(shè)計(jì)的性能指標(biāo),已成為業(yè)界關(guān)注的焦點(diǎn)問題。
無論是標(biāo)準(zhǔn)單元庫或IP的供應(yīng)商、晶圓制造廠還是芯片設(shè)計(jì)公司,都需要對(duì)單元庫和IP進(jìn)行較全面的質(zhì)量檢查和性能分析,保證單元庫和IP的正確性、一致性以及和設(shè)計(jì)需求之間的適配性,確保集成之后的功能和性能指標(biāo)符合設(shè)計(jì)預(yù)期。但隨著單元和IP的數(shù)量和復(fù)雜度增加,單元庫和IP質(zhì)量檢查的完備性、規(guī)范性、海量性能指標(biāo)數(shù)據(jù)的可視化等都面臨巨大挑戰(zhàn)。
Empyrean Qualib?為用戶提供了較全面的單元庫/IP質(zhì)量分析驗(yàn)證方案。該工具提供了基于規(guī)則的單元庫/IP質(zhì)量檢查功能、基于特征化模型的單元庫性能趨勢分析功能和基于仿真的單元驗(yàn)證分析功能等,較全面地檢視和分析單元庫/IP的質(zhì)量和性能,為高質(zhì)量的完成設(shè)計(jì)并達(dá)成設(shè)計(jì)指標(biāo)提供了重要保障。
Empyrean Qualib?支持較全面的庫文件格式種類,包括GDSII/OASIS,Verilog,Liberty, LEF...等,被應(yīng)用到不同工藝節(jié)點(diǎn)、不同設(shè)計(jì)類型如標(biāo)準(zhǔn)單元、存儲(chǔ)器、IO、模擬IP等的單元庫/IP的質(zhì)量驗(yàn)證中,獲得了用戶的廣泛認(rèn)可。
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